提出成像整体解决方案
这些仪器安装在半导体和电子元件等生产设备上，用于进行视觉和尺寸检测。
我们根据客户需求提供图像测量设备，包括相机、镜头和照明设备。
它们还可用于批量生产前的评估测试。
特点/功能
✔ 独特开发的自动缩放功能
已开发出自动调整夹具安装、摄像机安装位置和图像参数的功能。
已开发出自动调整夹具安装、相机安装位置和图像参数的功能。
通过自动调整以前需要手动完成的工作，可以大大提高检测精度。
✔ 2,000 多个测试项目
通过从 2,000 多个检测项目中建立一个最佳方案，即使是难以检测的微米级划痕、污垢和凹痕也能检测出来。
介绍成像和测量仪器
(1) 晶圆图扫描
| 主要检测功能 | 模式匹配、坐标测量 |
|---|---|
| 预处理和后处理过滤功能 | 二值化、平滑、轮廓、扩张和压缩、压缩和扩张、噪声处理 |
| 各种数据 | 64 个变量 |
| 日志 | 检测日志、错误日志、操作日志、系统日志 |
| 其他 | 验证/调试功能 |
(2) 近红外成像测量
| 目标材料 | Si（硅）、GaAs（砷化镓）、陶瓷 |
|---|---|
| 特点 | 硅晶圆和芯片、MEMS 和 CSP 等半导体器件。 可检测内部金属布线、芯片接合等。 |
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